產(chǎn)品名稱：四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀

產品(pǐn)型(xíng)號：HCTZ-2S

品(pǐn)牌(pái)：北(běi)京華測

一(yī)，產品(pǐn)介(jiè)紹

HCTZ-2S四(sì)探針(zhēn)測試儀是(shì)運(yùn)用(yòng)四(sì)探針測量原理的多(duō)用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由(yóu)主(zhǔ)機，測試台，四探(tàn)針探(tàn)頭(tóu)，計算(suàn)機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既(jì)可由主機直接顯(xiǎn)示，亦(yì)可(kě)由計算機控(kòng)製測試采集測(cè)試數據(jù)到(dào)計算機(jī)中加(jiā)以分(fēn)析(xī)，然後(hòu)以表(biǎo)格，圖(tú)形方式(shì)統計分析顯(xiǎn)示測試結(jié)果。

HCTZ-2S雙電測(cè)數字式四(sì)探(tàn)針試驗(yàn)儀是運(yùn)用直(zhí)綫或方(fāng)形四探針雙位(wèi)測(cè)量(liáng)。利用電流探針(zhēn)，電(diàn)壓(yā)探針的變換(huàn)，采用(yòng)兩(liǎng)次(cì)電(diàn)測量，對數(shù)據進行(háng)雙電測(cè)分(fēn)析(xī)，自動(dòng)消(xiāo)除樣(yàng)品幾何尺(chǐ)寸，邊界效應以(yǐ)及(jí)探針不(bù)等距和機(jī)械(xiè)遊移(yí)等因素(sù)對測量結(jié)果的影(yǐng)響(xiǎng)，它(tā)與單(dān)電測直綫(xiàn)或(huò)方形(xíng)四探針(zhēn)相比，大大提高精(jīng)確(què)度，也(yě)可應(yīng)用(yòng)於(yú)產(chǎn)品檢測以(yǐ)及(jí)新材(cái)料電學研究等用途。

四探針(zhēn)軟件(jiàn)測試係(xì)統(tǒng)是(shì)一個運行在計算(suàn)機上(shàng)擁(yōng)有友好測試界麵(miàn)的用(yòng)戶(hù)程序(xù)，通過此(cǐ)測(cè)試程序輔助使(shǐ)用戶簡(jiǎn)便(biàn)地(dì)進(jìn)行各(gè)項測(cè)試及獲(huò)得測試數據並對測試數據(jù)進行統計分析。

測試(shì)程(chéng)序控製四探針(zhēn)試驗儀(yí)進行測量(liáng)並采集測試(shì)數(shù)據(jù)，把采集到的數據在計(jì)算機中(zhōng)加以分析，然(rán)後(hòu)把(bǎ)測試數(shù)據(jù)以(yǐ)表(biǎo)格(gé)，圖形(xíng)直觀(guān)地記錄(lù)，顯示(shì)出來(lái)。用戶可對采(cǎi)集到(dào)的數(shù)據在(zài)電腦中(zhōng)保存或(huò)者打印以(yǐ)備(bèi)日(rì)後(hòu)參(cān)考和(hé)查看(kàn)，還(huán)可以(yǐ)把采(cǎi)集(jí)到(dào)的(dí)數據輸出(chū)到(dào)Excel中，讓(ràng)用戶(hù)對(duì)數據進行各種數(shù)據分析。

二(èr)，四(sì)探針(zhēn)測試探頭(tóu)

1，使用(yòng)幾(jī)何(hé)尺寸十(shí)分精確(què)的紅寶石(shí)軸承，量具精度的硬質合金探針，在(zài)寶石(shí)導孔(kǒng)內運動，持(chí)久耐(nài)磨，測(cè)量(liáng)精度高，重(zhòng)復(fù)性(xìng)好。

A.探頭間(jiān)距(jù)1.00㎜

B.探針機械遊率：±0.3%

C.探(tàn)針直徑0.5㎜

D.探(tàn)針材(cái)料：碳化鎢，常溫(wēn)不生鏽

E探針(zhēn)間(jiān)及探(tàn)針與(yǔ)其(qí)他部(bù)分之間的絕緣電(diàn)阻大於109歐姆。

2，手動測試(shì)架(jià)

手(shǒu)動測試架探(tàn)頭(tóu)上下由(yóu)手動(dòng)操作，可以用作斷麵單晶棒和矽(guī)片(piàn)測(cè)試(shì)，探針頭(tóu)可(kě)上下(xià)移動距離：120mm，測(cè)試台麵200x200(mm)。

三，產品(pǐn)應(yīng)用

HCTZ-2S四(sì)探針試(shì)驗(yàn)儀采(cǎi)用(yòng)四探(tàn)針雙(shuāng)電(diàn)測量(liáng)方(fāng)法(fǎ)，適(shì)用於(yú)生(shēng)產企業，高等院(yuàn)校，科(kē)研(yán)部門(mén)，是(shì)檢驗(yàn)和(hé)分析導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料和半導體材(cái)料在高溫，真空(kōng)及(jí)氣氛(fēn)條(tiáo)件下(xià)測量(liáng)的(dí)一種重要(yào)的工具。本儀(yí)器(qì)配置各(gè)類(lèi)測(cè)量(liáng)裝置可(kě)以測試不同材料。液晶(jīng)顯示(shì)，無需人工計算(suàn)，並帶(dài)有(yǒu)溫度補(bǔ)償功能(néng)。采(cǎi)用(yòng)芯片控(kòng)製(zhì)，恒(héng)流輸(shū)出，結構合理，質量輕便，配備10英(yīng)寸(cùn)觸摸(mō)屏(píng)，軟(ruǎn)件(jiàn)可保存(cún)和(hé)打印(yìn)數據(jù)，自(zì)動生(shēng)成報表(biǎo)；本儀器可(kě)顯示電(diàn)阻(zǔ)，電阻(zǔ)率，方阻，溫(wēn)度，單位(wèi)換(huàn)算，溫度(dù)係數(shù)，電(diàn)流，電壓(yā)，探(tàn)針(zhēn)形狀，探(tàn)針間距，厚(hòu)度，電導率，配(pèi)備(bèi)不同(tóng)的測試治具可以滿足不同(tóng)材(cái)料(liào)的測試要求。測(cè)試治(zhì)具(jù)可以根據(jù)產(chǎn)品(pǐn)及測(cè)試項目(mù)要(yào)求選購。

四，產(chǎn)品(pǐn)特(tè)點
   
    1.本儀器的(dí)特點是主機配置(zhì)三個(gè)數字(zì)表，在(zài)測量(liáng)電阻率的同時(shí)，一(yī)塊(kuài)數字(zì)表(biǎo)適(shì)時(shí)監測(cè)全(quán)程(chéng)的電流(liú)變化，及時(shí)掌控測量(liáng)電流，一塊顯示(shì)2，3探(tàn)針間(jiān)的測(cè)量電(diàn)壓(yā)，另一塊是顯示當前1，4探(tàn)針測量(liáng)使用(yòng)的(dí)電(diàn)壓(yā)，可以適當調整(zhěng)測(cè)量(liáng)電(diàn)壓避免材料(liào)耐壓(yā)不夠而電壓(yā)擊穿(chuān)被(bèi)測(cè)材料。

2.主(zhǔ)機還(huán)提(tí)供(gōng)精(jīng)度(dù)為0.05%的恒(héng)流(liú)源，使(shǐ)測量電(diàn)流(liú)高(gāo)度(dù)穩(wěn)定。本(běn)機(jī)配有恒(héng)流(liú)源開關，在(zài)測(cè)量(liáng)某(mǒu)些(xiē)薄層(céng)材料時(shí)，可(kě)免(miǎn)除探(tàn)針(zhēn)尖(jiān)與被測材(cái)料(liào)之間接(jiē)觸火花(huā)的發(fā)生，好地保護(hù)薄(báo)膜。采用低通濾(lǜ)波(bō)電流(liú)檢測技術以保證(zhèng)采(cǎi)集(jí)電流(liú)的有效值 ，以及(jí)電(diàn)流抗(kàng)幹(gān)擾的(dí)屏蔽。
    3.探(tàn)針(zhēn)采(cǎi)用碳(tàn)化鎢(wū)硬(yìng)質合金，硬度(dù)高，常溫不生鏽，探(tàn)針(zhēn)遊(yóu)移率在0.1～0.2%。保(bǎo)證了儀(yí)器測(cè)量(liáng)電阻率(shuài)的(dí)重(zhòng)復(fù)性(xìng)和(hé)準(zhǔn)確(què)度(dù)。本機如加(jiā)配(pèi)測量軟(ruǎn)件(jiàn)，測量矽(guī)片時可自(zì)動進(jìn)行(háng)厚度，直徑，探針間(jiān)距的(dí)修(xiū)正(zhèng)，並計算(suàn)，打印(yìn)出矽(guī)片電阻率，徑向電阻率(shuài)的最大(dà)百(bǎi)分變化，平均百分變化，徑(jìng)向電阻率(shuài)不(bù)均匀度(dù)，給測量帶(dài)來很大方便。軟件平(píng)台

4.HCTZ-800係統(tǒng)搭配(pèi)Labview係(xì)統開(kāi)發(fā)的(dí)hcpro軟件，具(jù)備(bèi)彈(dàn)性(xìng)的自(zì)定(dìng)義功能，可(kě)進(jìn)行電壓(yā)，電流。

5.儀器通(tōng)過USB轉RS232連接綫(xiàn)與電腦連(lián)接(jiē)，軟件(jiàn)可(kě)對四(sì)探(tàn)針(zhēn)電阻(zǔ)率測量(liáng)數(shù)據進行(háng)處理(lǐ)並修正測量數據(jù)，特(tè)定數(shù)據存(cún)儲格式，顯示變(biàn)化(huà)曲綫(xiàn)，兼(jiān)容性：適(shì)用於通(tōng)用(yòng)電腦(nǎo)

7.測(cè)試(shì)係(xì)統的軟件(jiàn)平(píng)台hcpro，采用(yòng)labview係(xì)統開發，符(fú)合(hé)導體，半導體材(cái)料的各項(xiàng)測試需(xū)求，具(jù)備(bèi)穩定(dìng)性(xìng)和an全性，並(bìng)具備斷電(diàn)資料的(dí)保存(cún)功能，圖(tú)像資料可(kě)保(bǎo)存(cún)恢復。兼(jiān)容XP，win7，win10係統。

五，軟(ruǎn)件功能

具(jù)有(yǒu)試驗電壓(yā)設置(zhì)功(gōng)能(néng)；

可(kě)選(xuǎn)擇(zé)試驗標準

可(kě)選擇(zé)是否(fǒu)自定(dìng)義(yì)或自動試驗(yàn)

截(jié)止(zhǐ)條件：時間/電壓/電流(liú);

語音提(tí)示(shì):可選(xuǎn)擇是(shì)否語音提(tí)示(shì)功(gōng)能。

統(tǒng)計報告(gào)：可(kě)自(zì)定報(bào)表格式(shì)

可(kě)生(shēng)出(chū)PDF，CSV，XLS文件(jiàn)格(gé)式

分析功能：可對測試(shì)的(dí)數據進行(háng)統計(jì)。最(zuì)大(dà)/最小(xiǎo)值(zhí)，平均(jūn)值(zhí)等(děng)。

六，技術參數(shù)

測(cè)量範(fàn)圍

電(diàn)  阻：1×10-4~2×105Ω，     分(fēn)辨率(shuài)：1×10-5~1×102Ω

電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm，  分辨率(shuài)：1×10-5~2×102Ω-cm

方(fāng)  阻(zǔ)：5×10-4~2×105Ω/□，  分(fēn)辨率(shuài)：5×10-5~1×102Ω/□

數字電(diàn)壓(yā)表(biǎo)

量程(chéng)：20.00mV~2000mV

誤(wù)差：±0.1%讀(dú)數±2字

數(shù)控恒流源

量(liáng)程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤(wù)差：±0.1%讀(dú)數(shù)±2字(zì)

四探針(zhēn)探頭

碳化(huà)鎢(wū)探(tàn)針(zhēn)：Ф0.5mm，直(zhí)流探針間距(jù)1.0mm，探針(zhēn)壓(yā)力：0~2kg可調

薄膜方阻(zǔ)探針：Ф0.7mm，直(zhí)流(liú)或(huò)方形探針間(jiān)距(jù)2.0mm，探針(zhēn)壓(yā)力(lì)：0~0.6kg可調

七(qī)，注意(yì)事項

1，儀(yí)器操(cāo)作(zuò)前請(qǐng)您(nín)仔(zī)細閱讀(dú)使用(yòng)說明書(shū)，規(guī)範操作

2，輕(qīng)拿輕放(fàng)，避免儀器震動，水平放(fàng)置，垂(chuí)直測量

3，儀器(qì)不使用時(shí)請切(qiē)斷(duàn)電源(yuán)，連接綫(xiàn)無需(xū)經(jīng)常拔下(xià)，避免(miǎn)灰(huī)塵(chén)進入航空(kōng)插引起短(duǎn)接等現象

4，探(tàn)針(zhēn)筆(bǐ)測(cè)試(shì)結(jié)束，套好(hǎo)護(hù)套(tào)，避(bì)免人(rén)為(wéi)斷(duàn)針