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標(biāo)準設(shè)備

電壓擊(jī)穿測試儀(yí) 耐電弧試驗儀高(gāo)壓，低(dī)壓漏(lòu)電起(qǐ)痕(hén) 表(biǎo)麵(miàn)體積電阻(zǔ)率(shuài)（高阻(zǔ)計）電(diàn)弱(ruò)點試驗儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試(shì)儀(yí)

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HCLD-III觸(chù)摸屏高壓漏電起痕(hén)試驗裝置測(cè)試儀器

更(gēng)新時間(jiān)：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽(lǎn)量(liáng)：1897

觸摸(mō)屏高壓漏(lòu)電起(qǐ)痕試(shì)驗裝置測試儀器根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gù)體(tǐ)絕緣(yuán)材料(liào)耐(nài)電(diàn)痕化指(zhǐ)數和相比(bǐ)電痕(hén)化(huà)指數(shù)的測(cè)定方(fāng)法》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等(děng)標準規定的模(mó)擬試驗(yàn)項目。
了解詳情(qíng)
HCLD-III電痕(hén)化漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀(yí)器

更(gēng)新(xīn)時間：2024-06-05

型(xíng)號(hào)：HCLD-III

瀏(liú)覽(lǎn)量：1859

電痕(hén)化漏電起痕(hén)試驗儀測(cè)試儀器(qì)是(shì)根(gēn)據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gù)體(tǐ)絕(jué)緣(yuán)材(cái)料(liào)耐電痕化(huà)指(zhǐ)數和相(xiāng)比(bǐ)電痕化指(zhǐ)數的測定方(fāng)法(fǎ)》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等標準規定的(dí)模(mó)擬試驗(yàn)項目。
了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
HCLD-III電工電(diàn)子(zǐ)漏(lòu)電起痕試(shì)驗(yàn)儀/測試(shì)儀(yí)器

更(gēng)新(xīn)時間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽量：2483

電工(gōng)電子漏(lòu)電起(qǐ)痕試(shì)驗(yàn)儀/測試(shì)儀(yí)器是(shì)根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gù)體(tǐ)絕緣材料(liào)耐(nài)電痕(hén)化指(zhǐ)數(shù)和相(xiāng)比(bǐ)電痕化指數(shù)的(dí)測定方法(fǎ)》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等標準規定的模(mó)擬試驗(yàn)項目(mù)。
了解(jiě)詳(xiáng)情
HCLD-III電氣(qì)絕緣(yuán)材料漏(lòu)電起痕試(shì)驗儀(yí)

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：1986

電氣(qì)絕緣(yuán)材料漏電起痕試驗儀是根(gēn)據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體(tǐ)絕(jué)緣(yuán)材料(liào)耐電痕(hén)化指(zhǐ)數和(hé)相(xiāng)比(bǐ)電痕(hén)化指數的測(cè)定(dìng)方法》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等標準規定的模(mó)擬試驗項目(mù)。
了解(jiě)詳(xiáng)情
HCLD-III控(kòng)製(zhì)精密(mì)漏(lòu)電起(qǐ)痕(hén)試(shì)驗(yàn)儀(yí)測(cè)試(shì)儀(yí)器

更(gēng)新時間：2024-06-05

型(xíng)號(hào)：HCLD-III

瀏(liú)覽(lǎn)量(liáng)：1900

控製精密漏電起(qǐ)痕(hén)試驗(yàn)儀測(cè)試(shì)儀器(qì)是(shì)根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gù)體絕(jué)緣材(cái)料耐(nài)電痕化(huà)指(zhǐ)數和(hé)相比電(diàn)痕化指數(shù)的測定方法(fǎ)》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等(děng)標準規(guī)定(dìng)的模(mó)擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
了(liǎo)解(jiě)詳情
HCLD-III高壓漏電(diàn)起痕試(shì)驗儀測試儀(yí)器

更新(xīn)時(shí)間：2025-07-29

型(xíng)號：HCLD-III

瀏(liú)覽(lǎn)量：2134

高壓漏(lòu)電(diàn)起(qǐ)痕試驗(yàn)儀測(cè)試(shì)儀(yí)器(qì)，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材(cái)料耐電痕(hén)化指數(shù)和(hé)相比(bǐ)電(diàn)痕(hén)化指數(shù)的測定(dìng)方法》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等(děng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定(dìng)的模擬試驗項目。
了(liǎo)解詳(xiáng)情
HCDH-200，300耐漏電(diàn)起痕試驗儀測(cè)試儀器

更新時間(jiān)：2023-08-03

型號：HCDH-200，300

瀏(liú)覽(lǎn)量：2212

耐漏(lòu)電起痕試(shì)驗儀測試儀器(qì)：耐(nài)漏(lòu)電起痕試驗儀是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gù)體絕緣(yuán)材(cái)料(liào)耐(nài)電痕(hén)化指數和相比電(diàn)痕化(huà)指數的(dí)測(cè)定方(fāng)法》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等標(biāo)準規(guī)定的模(mó)擬試驗項(xiàng)目。
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耐漏電起(qǐ)痕HCDH-200測試儀(yí)器(qì)

更新(xīn)時間：2023-08-03

型(xíng)號(hào)：

瀏(liú)覽量：2621

耐漏(lòu)電起痕HCDH-200測(cè)試(shì)儀(yí)器：耐漏(lòu)電起痕試(shì)驗(yàn)儀是(shì)根(gēn)據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料(liào)耐(nài)電痕化(huà)指數相(xiāng)比電(diàn)痕(hén)化指(zhǐ)數的測定方(fāng)法》，UL746A，ASTMD3638-92，DIN53480等(děng)標準規定的模(mó)擬試(shì)驗(yàn)項目(mù)。
了(liǎo)解詳情(qíng)

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