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當前(qián)位置(zhì)：首(shǒu)頁(yè) > 產品中心 > 功能(néng)材料(liào)測試儀(yí)器 > 高溫(wēn)四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀

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功能(néng)材料(liào)測試(shì)儀(yí)器(qì)

壓電陶(táo)瓷強(qiáng)場(cháng)介(jiè)電性能壓(yā)電材料電場應(yīng)變特(tè)性(xìng)的測試儀激(jī)光(guāng)測振(zhèn)儀傳(chuán)感器(qì)多(duō)功(gōng)能綜(zōng)合(hé)測試係統先進(jìn)功(gōng)能材料(liào)電測綜(zōng)合(hé)測試係統長期(qī)耐腐(fǔ)蝕(shí)老(lǎo)化試驗平台(tái)- 高(gāo)電場(cháng)介(jiè)電，損(sǔn)耗(hào)，漏電(diàn)流測試係(xì)統阻抗分析儀鐵(tiě)電綜(zōng)合材(cái)料(liào)測試係統(tǒng) 鐵電(diàn)分析儀高壓功(gōng)率放大器 D33壓電(diàn)係數測試(shì)儀(yí) 高(gāo)溫介電(diàn)溫譜測(cè)試(shì)儀熱(rè)釋(shì)電(diàn)測試儀 TSDC熱刺激(jī)電流測試儀高壓(yā)極(jí)化裝置高(gāo)低溫(wēn)冷熱台簡易探(tàn)針(zhēn)台高(gāo)溫四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀多通(tōng)道電(diàn)流(liú)采集(jí)係統(tǒng) 高(gāo)真空退火爐電學(xué)綜(zōng)合測試係統(tǒng) 高溫管式爐測試儀(yí) 漆包綫擊穿(chuān)耐(nài)壓試驗儀電化(huà)學遷移(yí)測試係統(tǒng) 水平垂直(zhí)燃燒(shāo)測定機陶瓷材料閃(shǎn)燒試驗(yàn)裝置導通電(diàn)評估(gū)係統差(chà)熱分析(xī)儀醫(yī)用接地電(diàn)阻(zǔ)

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華測高溫四(sì)探(tàn)針測試儀器

更新時(shí)間(jiān)：2024-06-06

型號(hào)：

瀏覽量(liáng)：3878

HGTZ-800華測(cè)高溫(wēn)四探針(zhēn)測試儀器器(qì)係(xì)統搭(dā)配(pèi)Labview係統(tǒng)開發(fā)的(dí)hcpro軟件，具備(bèi)彈(dàn)性(xìng)的(dí)自定(dìng)義(yì)功(gōng)能，可進(jìn)行電壓，電流，溫度(dù)，時(shí)間等設置，符合導(dǎo)體，半導體(tǐ)材料與其它(tā)新材料測(cè)試(shì)多(duō)樣(yàng)化(huà)的需求。
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HGTZ-800華(huá)測高(gāo)溫四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)儀器

更新(xīn)時間(jiān)：2023-08-09

型號(hào)：HGTZ-800

瀏覽(lǎn)量：3045

華測高(gāo)溫四探(tàn)針測試(shì)儀(yí)器(qì)——高溫(wēn)四探(tàn)針(zhēn)測試儀采用(yòng)四(sì)探針雙電(diàn)測量(liáng)方(fāng)法，適用於生(shēng)產企(qǐ)業(yè)，高等院校，科研部門(mén)，是檢(jiǎn)驗和(hé)分析導體材料和半導體(tǐ)材料(liào)在(zài)高溫(wēn)，真(zhēn)空(kōng)及(jí)氣氛(fēn)條(tiáo)件下(xià)測(cè)量(liáng)的一種重要的工(gōng)具(jù)。本儀器(qì)配置(zhì)各類測(cè)量裝置(zhì)可以(yǐ)測試不(bù)同材料(liào)。液(yè)晶顯示，無需人工(gōng)計算，並(bìng)帶有溫(wēn)度(dù)補償功(gōng)能。采用芯(xīn)片(piàn)控(kòng)製(zhì)，恒流(liú)輸出(chū)，結(jié)構(gòu)合理，質量輕便，配(pèi)備(bèi)10英寸觸(chù)摸屏，軟件可保存(cún)和打印數(shù)據，自動生成報(bào)表(biǎo)。
了(liǎo)解詳情(qíng)
華測(cè)高(gāo)溫四探針測(cè)試(shì)儀器(qì) 居裏溫(wēn)度

更新(xīn)時間(jiān)：2024-06-12

型(xíng)號：

瀏覽量：3388

華(huá)測高溫(wēn)四探針(zhēn)測試(shì)儀(yí)器居裏溫(wēn)度采用四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)電(diàn)測量方(fāng)法，適用於生(shēng)產(chǎn)企業，高等(děng)院校，科(kē)研(yán)部門，是(shì)檢(jiǎn)驗(yàn)和(hé)分析(xī)導體材(cái)料和半(bàn)導體(tǐ)材料(liào)在高溫，真(zhēn)空及氣氛條件下測量(liáng)的(dí)一(yī)種(zhǒng)重(zhòng)要(yào)的(dí)工(gōng)具(jù)。本儀器(qì)配置各類測(cè)量裝(zhuāng)置可以測(cè)試不同(tóng)材料(liào)。液晶顯(xiǎn)示(shì)，無需(xū)人工(gōng)計算，並(bìng)帶有溫(wēn)度(dù)補(bǔ)償功(gōng)能。
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HCTZ-2四探針測(cè)試儀(yí)器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCTZ-2

瀏(liú)覽(lǎn)量：3065

HCTZ-2型數字式四探針測試儀(yí)器(qì)是運(yùn)用四探針測量原理的(dí)多用途綜合測(cè)量設備。儀器(qì)采(cǎi)用了(liǎo)電子技術進(jìn)行設(shè)計，裝(zhuāng)配。具有功能(néng)選擇直觀(guān)，測(cè)量取數(shù)快(kuài)，精(jīng)度(dù)高，測(cè)量(liáng)範(fàn)圍寬，穩定(dìng)性(xìng)好(hǎo)，結構緊(jǐn)湊，易(yì)操作(zuò)等(děng)特(tè)點。
了(liǎo)解(jiě)詳情
HCTZ-2S北(běi)京(jīng)華測*四(sì)探針(zhēn)測試儀

更新(xīn)時間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

瀏覽量：3998

HCTZ-2S北京華測*四探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀器是(shì)運(yùn)用(yòng)四探針測量原(yuán)理的(dí)多(duō)用途綜(zōng)合測(cè)量設備。儀器由主機(jī)，測(cè)試台，四(sì)探針探頭，計(jì)算機(jī)等部分(fēn)組(zǔ)成(chéng)，測(cè)量數據(jù)既可由主(zhǔ)機直(zhí)接顯示，亦可由計(jì)算機控製測(cè)試采集測試數據(jù)到(dào)計(jì)算(suàn)機中加(jiā)以分析，然後以表格(gé)，圖形(xíng)方式(shì)統計分析顯示測試結(jié)果。
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HCTZ-2S北(běi)京(jīng)華測試驗(yàn)儀器四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)

更新(xīn)時(shí)間：2023-08-29

型號：HCTZ-2S

瀏(liú)覽量：3220

HCTZ-2S北京華(huá)測(cè)試(shì)驗(yàn)儀器四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀器是(shì)運用(yòng)四探(tàn)針測(cè)量原(yuán)理(lǐ)的(dí)多用途(tú)綜(zōng)合測(cè)量(liáng)設備(bèi)。該(gāi)儀器(qì)按照單晶矽物理(lǐ)測試(shì)方法標(biāo)準(zhǔn)並參考美(měi)國 A.S.T.M 標(biāo)準而(ér)設計的(dí)，於測(cè)試半導體材料(liào)電阻率及方(fāng)塊電阻（薄層(céng)電(diàn)阻）的儀器(qì)。儀器(qì)由主機(jī)，測試台，四(sì)探(tàn)針探(tàn)頭，計算機(jī)等(děng)部(bù)分組成，測量(liáng)數據既(jì)可(kě)由(yóu)主機直(zhí)接顯示(shì)，亦可(kě)由計算(suàn)機(jī)控製測試采集測試(shì)數(shù)據到計(jì)算(suàn)機中加(jiā)以分(fēn)析，然(rán)後(hòu)以(yǐ)表格，圖形(xíng)方式統計分(fēn)析顯(xiǎn)示(shì)測(cè)試結(jié)果(guǒ)。
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HCTZ-2S華測(cè)四探針(zhēn)測試儀

更(gēng)新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

瀏覽(lǎn)量(liáng)：3518

HCTZ-2S華測(cè)四(sì)探針測試儀(yí)器是(shì)運用(yòng)四探針測(cè)量原理的(dí)多用途綜合(hé)測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶矽物理測(cè)試方(fāng)法標(biāo)準並(bìng)參考美(měi)國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準而設計(jì)的，於測試半導(dǎo)體材(cái)料電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)及方塊(kuài)電阻（薄(báo)層電阻）的儀器。儀器由(yóu)主機(jī)，測試(shì)台，四(sì)探(tàn)針探(tàn)頭，計(jì)算機(jī)等部(bù)分(fēn)組成(chéng)，測量(liáng)數據(jù)既可(kě)由(yóu)主機(jī)直接顯示(shì)，亦可(kě)由(yóu)計(jì)算機控(kòng)製測(cè)試采(cǎi)集測試(shì)數(shù)據到計(jì)算機中加以(yǐ)分析(xī)，然後以(yǐ)表格，圖(tú)形方(fāng)式統計分析顯示測試結果(guǒ)。
了(liǎo)解詳(xiáng)情
HCTZ-2S北京(jīng)華測四探(tàn)針測試儀(yí)

更(gēng)新(xīn)時(shí)間(jiān)：2024-06-13

型(xíng)號(hào)：HCTZ-2S

瀏覽量(liáng)：3432

HCTZ-2S北(běi)京華(huá)測四(sì)探針測試儀器是(shì)運(yùn)用(yòng)四探(tàn)針測(cè)量(liáng)原理的(dí)多用途綜合測量設備。儀(yí)器(qì)由(yóu)主機(jī)，測試台，四(sì)探針(zhēn)探頭(tóu)，計算機等(děng)部分(fēn)組成(chéng)，測量(liáng)數(shù)據既可由(yóu)主機(jī)直接(jiē)顯示(shì)，亦(yì)可由計算機控(kòng)製測(cè)試(shì)采(cǎi)集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以(yǐ)分析(xī)，然(rán)後以(yǐ)表格，圖形方(fāng)式(shì)統計分析顯示測試結果(guǒ)。
了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)

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